グランド入力を測定してみると

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入力をグランドレベルにした状態でアナログ変換を行うと
変換したデータには特有の現象が現れます。
アナログ入力がグランドレベルになっている状態では
変換結果データは16進の8000Hの前後の間を変動します。
この場合アナログ変換チップの出力パターンは全ビットが
入れ替わる事が多いためこの出力ビット変動により
アナログ変換チップ自身のグランドが変動させられ、
結果として変換データのばらつきとなって現れます。
この現象は入力がグランドレベルになっている時だけではなく、
色々な電圧入力で発生する可能性があります。
下に示したヒストグラムはFCAD416を使用して
入力をグランドレベルにして測定を行った結果ですが、
更に下に示すC社製品と比較するとノイズレベルの
低さが際立っています。


測定条件は共に
・最高速度でサンプリング
・測定チャンネルは1チャンネル
・サンプリング数は10,000点
となっています。





ちなみに、FCAD416/FCAD416−DSUBでの
実際のグラウンドノイズレベルは大体以下のグラフ程度になります。
このグラフは、1チャンネルの入力をグラウンドレベルに固定し
電圧レンジ±10.24Vで10000点の測定を行ったものです。

この画面の電圧幅(縦方向の表示幅)は±6デジットなので
±1.875mV相当になります。
また、この画面から実際のノイズレベルは
凡そ9デジット(約2.8mVp−p)と考えられます

このことから、SN比を計算すると
SN=20log(20Vp-p/2.8mVp-p)となるので
SN=77dBとなります。

一方、上で示したC社製品の場合は
ノイズレベルは19デジット=5.94mVp-pと考えられ
SN=20log(20Vp-p/5.94mVp-p)より
SN=70dBとなります。